SIGAA - Sistema Integrado de Gestão de Atividades Acadêmicas

Tópicos Aulas

i. Fundamentos da Difracção de Raios X. Interacção da radiação com a matéria. Produção de raios X. Métodos de difração de raios X. Fatores que afetam a intensidade dos raios X difratados. ii. Estratég (21/03/2023 - 09/05/2023)

i. Fundamentos da Difracção de Raios X. Interacção da radiação com a matéria. Produção de raios X. Métodos de difração de raios X. Fatores que afetam a intensidade dos raios X difratados. ii. Estratégias de aquisição de dados. Medição e avaliação de erros. Procedimentos gerais de redução de dados. iii. Análise qualitativa de fases cristalinas. Desenvolvimento de rotinas de avaliação. Introdução à análise semiquantitativa de fases cristalinas. iv. Gestão e manutenção de bases de dados PDF (Powder Diffraction File). Bases de dados ICCD com formatos PDF2, PDF4 e COD (Crystallography Open Database). v. Análise quantitativa de fases cristalinas por diferentes métodos. vi. Descrição do equipamento de raios X e software para publicação dos artigos.

Frequências da Turma

#	Matrícula	MAR				ABR								MAI			Total
#	Matrícula	21	22	28	29	04	05	11	12	18	19	25	26	02	03	09	Total
1	2022100****	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0
2	2022100****	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0
3	2022100****	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0
4	2021100****	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0
5	2022100****	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0

Notas da Turma

#	Matrícula	Unid. 1	Unid. 2	Unid. 3	Resultado	Situação
1	2022100****	9,0	9,0	9,0	9.0	AM
2	2021100****	10,0	10,0	10,0	10.0	AM
3	2022100****	7,0	7,0	7,0	7.0	AM
4	2022100****	9,0	9,0	9,0	9.0	AM
5	2022100****	7,0	7,0	7,0	7.0	AM

Nenhum item foi encontrado

Plano de Curso

Nesta página é possível visualizar o plano de curso definido pelo docente para esta turma.

Dados da Disciplina
Ementa:	Difracção de Raios X. Difratómetro de raios X. Medição de amostras. Análise qualitativa e quantitativa de fases cristalinas. Análise de materiais amorfos.
Objetivos:

Metodologia de Ensino e Avaliação
Metodologia:	Técnicas Educacionais<br />Apresentação de seminários e aulas teóricas e práticas.<br />Recursos Didáticos<br />Computador; Internet; artigos científicos, plataformas virtuais.
Procedimentos de Avaliação da Aprendizagem:	Avaliação escrita
Horário de atendimento:	-
Bibliografia:	[1] Santiago Medina-Carrasco, Jose Manuel Valverde, The Calcium Looping process for energy storage:<br />Insights from in situ XRD analysis, Chemical Engineering Journal, Volume 429, 2022, 132244.<br />doi.org/10.1016/j.cej.2021.132244 .<br />[2] Santiago Medina-Carrasco, Jose Manuel Valverde, Crystallographic and Morphological Transformation<br />of Natrite and Nahcolite in the Dry Carbonate Process for CO2 Capture, Crystal Growth & Design, 18 (8),<br />2018, 4578-4592. doi: 10.1021/acs.cgd.8b00563.<br />[3] C.R. Hubbard, R.L. Snyder. RIR — measurement and use in quantitative XRD. Powder Diffr., 3 (2) (1988),<br />pp. 74-77, doi:10.1017/S0885715600013257.<br />[4] R.L. Snyder. The use of reference intensity ratios in X-ray quantitative analysis. Powder Diffr., 7 (4)<br />(1992), pp. 186-193, doi:10.1017/S0885715600018686.<br />[5] Le Bail, A. (2005). Whole powder pattern decomposition methods and applications: A retrospection.<br />Powder Diffraction, 20(4), 316-326. doi:10.1154/1.2135315.<br />[6] H.M. Rietveld. A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. J. Appl. Crystallogr., 2<br />(2) (1969), pp. 65-71, doi:10.1107/S0021889869006558.

Cronograma de Aulas
Início	Fim	Descrição
21/03/2023	09/05/2023	i. Fundamentos da Difracção de Raios X. Interacção da radiação com a matéria. Produção de raios X. Métodos de difração de raios X. Fatores que afetam a intensidade dos raios X difratados. ii. Estratég

Avaliações
Data	Descrição
04/04/2023	1ª Avaliação
25/04/2023	2ª Avaliação
19/05/2023	3ª Avaliação

: Referência consta na biblioteca

Referências Básicas
Tipo de material	Descrição

Referências Complementares
Tipo de material	Descrição

CPPGCM/CT032 - TÓPICOS ESPECIAIS XXXVII: DIFRAÇÃO DE RAIOS X - Turma: 01 (2023.1)