Banca de DEFESA: MAYKOL CHRISTIAN DAMASCENO DE OLIVEIRA

Uma banca de DEFESA de MESTRADO foi cadastrada pelo programa.
DISCENTE: MAYKOL CHRISTIAN DAMASCENO DE OLIVEIRA
DATA: 12/07/2019
HORA: 14:30
LOCAL: Auditório do Departamento de Física/CCN
TÍTULO: Aplicações de elipsometria padrão e generalizada na caracterização de óxidos.
PALAVRAS-CHAVES: Elipsometria; Elipsometria Generalizada; TCOs; Matrizes de Jones
PÁGINAS: 57
GRANDE ÁREA: Ciências Exatas e da Terra
ÁREA: Física
RESUMO:

A técnica de elipsometria padrão já vem se mostrando bastante eficiente na caracterização de óxidos condutores transparentes (TCOs). O ZnO é um semicondutor com um grande band gap (), tendo uma boa condutividade e transparência na regia do visível do espectro. Os filmes analisados neste trabalho foram obtidos através da conversão termal de um precursor orgânico (acetato de zinco di-hidratado) em um material inorgânico a uma temperatura de 300º C, depositado sobre um substrato de SiO₂/Si-cristalino por dois diferentes métodos: spin-coat e spray-pyrolysis. Antes da comparação entre as propriedades dos filmes em relação ao método de deposição um modelo ótico que descreva o ZnO precisou ser construído. Visando representar da melhor forma as propriedades óticas do material, três diferentes modelos de dispersão e de função dielétrica foram utilizados: Forouhi e Bloomer (F&B), Tauc-Lorentz e Tanguy. Além do modelo de Drude para a descrição das propriedades elétricas do material. Por fim o melhor modelo para a comparação entre os métodos de deposição foi Drude/Tanguy/Lorentz, onde se constatou a maior condutividade dos filmes depositados por spray-pyrolysis e diferenças em transições na região do ultravioleta representadas através de uma banda de Lorentz.

De forma mais abrangente a elipsometria generalizada vai além, com a obtenção das matrizes de Jones para materiais sem simetria axial, ou seja, um material onde as propriedades variam com a direção em que a amostra é analisada. Dessa forma é necessária uma configuração onde diversas medidas são realizadas em função da rotação do estado de polarização analisado. Para tanto foi necessário desenvolver um programa que permitisse analisar e ajustar os dados. O programa foi testado no SiO₂/Si-cristalino, um material já bastante conhecido e descrito na literatura como axial, utilizado para a regressão dos dados experimentais a linguagem Maple, onde alimentado com as medidas e considerando uma amostra geral (não-axial) encontramos parâmetros para descrever o SiO₂ como sendo axial, confirmando assim que metodologia utilizada está correta. A aplicação específica com quebra da simetria axial por um campo magnético encontra-se em andamento.

MEMBROS DA BANCA:
Interno - 1623821 - ACRISIO LINS DE AGUIAR
Externo ao Programa - 1534112 - ANGEL ALBERTO HIDALGO
Presidente - 2056226 - CLEANIO DA LUZ LIMA
Externo à Instituição - LUCAS FUGIKAWA SANTOS - UNESP